*日本日置HIOKI ST5520絕緣電阻測(cè)試儀
*日本日置HIOKI ST5520絕緣電阻測(cè)試儀
日本日置HIOKI ST5520絕緣電阻測(cè)試儀
日本日置HIOKI ST5520絕緣電阻測(cè)試儀概要
實(shí)現(xiàn)了“高速”絕緣電阻檢查
zui快50ms的高速判斷
快速釋放殘留電壓
任意設(shè)置試驗(yàn)電壓值(25~1000V(1V分辨率)設(shè)置)
接觸檢查功能(防止由于接觸不良造成的誤判斷)
短路檢查功能(防止不合格品流入市場(chǎng))
日本日置HIOKI ST5520絕緣電阻測(cè)試儀基本參數(shù)
測(cè)試項(xiàng)目 | 絕緣電阻(直流電壓施加方式) |
測(cè)試電壓/測(cè)量量程 | 25 V ≦V < 100 V (2.000/20.00/200.0 MΩ), |
基本精度 | ±2 % rdg. ±5 dgt. |
測(cè)試速度 | FAST:30ms/次,SLOW:500ms/次(切換) |
顯示屏 | LCD (壽命100,000小時(shí)),背光燈4階段 |
存儲(chǔ)功能 | 保存內(nèi)容:額定測(cè)量電壓、比較器上下限值、測(cè)試模式、判定時(shí)蜂鳴音、測(cè)試時(shí)間、響應(yīng)時(shí)間、電阻量程、測(cè)量速度 |
測(cè)試模式 | 連續(xù)模式、PASS STOP模式、FAIL STOP模式、強(qiáng)制結(jié)束時(shí)判定模式(切換) |
比較設(shè)置 | UPPER_FAIL:測(cè)量值≧上限值 |
判定處理 | 蜂鳴音、PASS/U.FAIL/L.FAIL 的LED 燈亮,UL_FAIL時(shí)U.FAIL/L.FAIL同時(shí)燈亮,EXT. I/O 輸出、通過(guò)RS-232C獲取判定結(jié)果 |
試驗(yàn)時(shí)間計(jì)時(shí)器 | 0.045 s ~999.999 s(0.001 s 分辨率),從施加電壓到判定合格與否的時(shí)間 |
響應(yīng)時(shí)間計(jì)時(shí)器 | 試驗(yàn)開(kāi)始后,禁止按照0.005 s ~999.999 s(0.001 s 分辨率)設(shè)置比較器判定動(dòng)作的時(shí)間 |
模擬輸出 | DC +4 V f.s. |
接口 | RS-232C(標(biāo)配),外部I/O(外部控制器用輸入,判定結(jié)果輸出),BCD輸出(僅限ST5520-01) |
電源 | AC100 V ~240 V,50/60Hz,zui大25VA |
體積及重量 | 215W×80H×166Dmm,1.1kg |
附件 | 操作說(shuō)明書(shū)×1、電源線×1、EXT.I/O連接器×1、連接器蓋×1 |
備案號(hào):滬ICP備17006008號(hào)-22 技術(shù)支持:智慧城市網(wǎng)